场发射透射电子显微镜 |
发布日期:2010-03-03 | 浏览次数: | 字号:[大 中 小 ] | | |
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仪器名称 |
场发射透射电子显微镜 |
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仪器型号 |
Tecnai G2 F30 S-TWIN |
制造厂商 |
美国FEI公司 |
添置时间 |
2009-07-01 |
浏览次数 |
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联 系 人 |
林老师、李老师、魏老师 |
联系方式 |
0514-87979383-117 / 121,13665208093 |
仪器功能及附件:
附件: 1) 超薄切片机,Lica公司; 2) EAGLE CCD相机,美国FEI公司
3) Gatan 626冷冻传输杆,美国Gatan公司; 4) 离子减薄系统一套,美国Gatan公司
5) 三维重构软件一套; 6) EDXA能谱一台,美国EDXA公司
应用范围:
主要技术指标: 最高放大倍数:TEM 100万倍;STEM 230万倍; 最高加速电压:300kV
点分辨率:0.20nm; 线分辨率:0.102nm; STEM HAADF分辨率:0.17nm
工作模式:明场像、暗场像、衍射像和 STEM像场发射透射电镜可对纳米超微粉末、生物&橡胶超薄切片、金属&陶瓷减薄样等各种材料进行观察和分析研究。 场发射透射电镜对材料样品的晶体结构,原子排列等有很重要的意义。超薄切片机可以用于生物和橡胶样品的超薄切片,以便于透射电镜观察。离子减薄系统用于金属和陶瓷样品的减薄,以便于透射电镜观察。冷冻传输杆可以用于含水样品以及胶束样品的透射电镜观察。场发射透射电镜已广泛地应用于物理、化学、材料、生物、医学等学科以及冶金、陶瓷、电子、半导体等工业,具有广泛的应用前景。 |
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