小角X射线散射仪SAXS |
发布日期:2012-10-29 | 浏览次数: | 字号:[大 中 小 ] | | |
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仪器名称 |
小角X射线散射仪SAXS |
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仪器型号 |
NanoSTAR |
制造厂商 |
德国Bruker-AXS公司 |
添置时间 |
2012-09-03 |
浏览次数 |
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联 系 人 |
王老师 |
联系方式 |
0514-87979383-229/221
E-mail: zfwang@yzu.edu.cn
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主要技术指标:
最大功率:30W;通量密度:1.7´107CPS/mm2;探测器灵敏度:≤1光子/Pixel;动态范围:≥109CPS 角度范围:4.4º(1nm)~0.044º (100nm) ;散射矢量最小值:qmin≤0.0628nm-1
仪器功能及附件:
Ø 原位拉伸散射测试 Ø WAXS Ø Mapping-SAXS Ø GI-SAXS/GI-WAXS Ø 变温散射测试
应用范围:
适合于纳米尺度微观结构的研究,领域涉及化学、化工、材料科学、分子生物学、医药学、凝聚态物理等多个学科。
Ø 纳米颗粒研究:研究各种形态的纳米颗粒形状、大小及分布等
Ø 纳米结构研究:例如由重复单元组成的聚合物长链分子
Ø 纳米级微孔研究:可测定材料中微孔的形状、大小和分布等
Ø 高分子材料研究
Ø 生物大分子研究:分子参数、形状参数、溶液状态的构像和结构
Ø 聚合物长周期的测定、片晶厚度等
仪器参考资料及网页:
NanoSTAR介绍
仪器公司网页
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